Мы получили два патента:
-
Способ измерения содержания массовых долей легких элементов в жидких технологических продуктах
-
Система измерения содержания массовых долей легких элементов в жидких технологических продуктах
Мы получили два патента:
- Способ измерения содержания массовых долей легких элементов в жидких технологических продуктах.
- Система измерения содержания массовых долей легких элементов в жидких технологических продуктах.
Эти патенты стали логичным продолжением нашей работы в области рентгенофлуоресцентного анализа и направлены на решение одной из самых сложных задач – корректного определения легких элементов (Al, Si, S, P) в поточном режиме, в пульпах и жидких средах.
Рентгенофлуоресцентный метод давно и успешно применяется для анализа легких элементов в лабораторных и портативных приборах. При этом в онлайн-анализе подобных решений до сих пор практически не существовало, несмотря на то, что аппаратная база (детекторы и рентгеновские трубки) принципиально схожа.
Подавая заявки на патенты мы детально описали физику процесса, обосновали режимы возбуждения и регистрации, привели экспериментальные данные и показали, почему и за счет каких параметров метод работает именно в поточном режиме.
Подробные пояснения, позволяющие воспроизвести подход и понять его физическую природу, позволили нам написать документ, практически совершенный с технической точки зрения, благодаря чему наши заявки были приняты, рассмотрены и одобрены в самые короткие сроки.
Для компании это важный шаг в развитии собственной технологической базы, ведь каждый патент – это фундамент для будущих продуктов, серийных решений и дальнейших исследований.
