Научно-производственная компания ООО Техноаналитприбор
top-1
105082, Россия, Москва, Бакунинская улица, 69с1 офис 614

Поточный XRF: ключевые события отрасли за апрель 2026 года

Одним из ключевых направлений стало развитие XRF для анализа редкоземельных элементов. Были опубликованы результаты исследования, демонстрирующие существенный прогресс в применении XRF для многокомпонентных руд с низкими концентрациями РЗЭ. В работе показано, что современные подходы позволяют достигать пределов количественного определения на уровне менее 50 ppm для ряда редкоземельных элементов. В статье мало конкретики, не приводятся данные за счет чего удалось поднять чувствительность анализа.

Вторая важная новость – развитие и промышленное внедрение конвейерных XRF-анализаторов. В апреле подтверждено расширение применения решений класса Conveyor XRF, таких как Fast Conveyor Analyzer (FCA), предназначенных для непрерывного анализа сыпучих материалов непосредственно на транспортных лентах. Системы обеспечивают измерение элементного состава в реальном времени без необходимости отбора проб и пробоподготовки, а также интеграцию данных в автоматизированные системы управления предприятием. Есть предположение в компании IMA работают выходцы из Metso, специализирующиеся на пульповых анализаторах. Похоже, коллеги решили не ограничиваться только пульповыми анализаторами, но и выпустили версию для сыпучих продуктов. В материалах на сайте компании не раскрываются особенности решения, приведена общая информация.

Дополнительные исследования и публикации по конвейерным системам (например, концепции CON-X) подтверждают их эффективность при анализе руды, концентратов, шихты и металлургических продуктов в потоке.
Коллеги из BSI прямо указывают, что воздушный зазор нужно минимизировать и удерживать постоянным. Изменение зазора меняет поглощение мягкого характеристического излучения в воздухе, и детектор воспринимает это как изменение концентрации элемента, хотя состав мог не измениться. 

Для железорудной шихты применена плавающая подвеска, которая выравнивает уровень материала и обеспечивает постоянное расстояние 40 мм между детектором и слоем материала. При перегрузке спектрометр автоматически поднимается по сигналу аварийных датчиков уровня. 

Для железистого кека расстояние 50 мм обеспечивается колесами, опирающими анализатор на поверхность кека; чтобы колеса не проваливались, применена динамическая подвеска с балансиром. 

В расчетном алгоритме учитываются факторы онлайн-измерения, включая расстояние от анализатора до материала, размер кусков, неоднородность, влажность и запыленность. Но сама математическая модель поправки в статье не раскрыта. 

Для Co в железистом кеке они дополнительно используют нормировку по отношению интенсивностей Co/Fe к интенсивности некогерентного рассеяния. Такая нормировка физически может снижать влияние геометрии, плотности и матрицы, но это не чистая «поправка на расстояние», а эмпирико-спектральная компенсация в составе калибровочной методики.
В отличие от коллег из BSI, в анализаторах АРП-2Ц помимо методических поправок и инженерных решений используется запатентованное решение по повышению точности измерений с помощью программно-аппаратного решения на базе лазерного уровнемера.
Компания ООО “Техноаналитприбор” продолжает держать руку на пульсе мировых разработок поточного анализа, чтобы предоставлять инновационные решения для горно обогатительных предприятий. 

Техноаналитприбор
top-1
105082, Россия, Москва, Бакунинская улица, 69с1 офис 614

2012-2026 © ООО "Техноаналитприбор"

top-1
105120, г. Москва ул.Нижняя Сыромятническая д.11 корпус Б, 3 этаж